影響密封試驗(yàn)結(jié)果的因素很多，其中重要的是溫度和體積的變化。在檢測(cè)過程中，一旦密封氣體回路中的溫度和體積發(fā)生變化，壓力就會(huì)根據(jù)查理定律發(fā)生變化，這將對(duì)泄漏試驗(yàn)造成更大的偏差。

　　在測(cè)試過程中，被測(cè)物體一側(cè)氣體回路的空氣溫度變化與壓差：

　　例t=25℃，Δt=1℃

　　①P=100kPaSoΔPt≒675Pa(當(dāng)被測(cè)物體的溫度下降時(shí)，壓力下降，并出現(xiàn)正測(cè)量值。

　?、赑≒-101.3kPa（真空）=0kPa(絕對(duì)壓力)，因此ΔPt=0Pa

　　溫度對(duì)氣密性檢漏機(jī)的影響：

　　綜上所述，我們可以得出結(jié)論，在真空環(huán)境中，它不受溫度變化的影響嗎？測(cè)試偏差與測(cè)試壓力成正比。測(cè)試壓力越接近真空，偏差越小。如果實(shí)際環(huán)境溫度穩(wěn)定，測(cè)試結(jié)果對(duì)不同溫度環(huán)境的影響很小。例如，溫度環(huán)境與5相比℃差別約為5/(273)20）≈1.7%。如果在測(cè)試過程中發(fā)生溫度變化，將對(duì)測(cè)試結(jié)果產(chǎn)生重大影響。

　　正常情況下，氣密性檢漏儀會(huì)導(dǎo)致溫度變化影響試驗(yàn)：

　　1.氣體分子在充氣過程中的摩擦加熱

　　常見現(xiàn)象：氣體分子在充氣過程中的摩擦?xí)馃崃?。根?jù)氣體方程。PV=NRT，可以知道，測(cè)試室內(nèi)的壓力會(huì)增加。充氣后，溫度會(huì)慢慢恢復(fù)到正常室溫。

　　如果穩(wěn)壓時(shí)間不夠，換句話說，內(nèi)腔內(nèi)的溫度仍處于下降到測(cè)試期的恢復(fù)期，那么溫度下降引起的壓降將直接反映在測(cè)試的泄漏量上。

　　影響：在測(cè)試階段，泄漏量由大到小變化，直至穩(wěn)定。

　　方法一：增加電壓穩(wěn)定性。在進(jìn)入測(cè)試階段之前，測(cè)試室的內(nèi)部溫度自然會(huì)達(dá)到外部溫度。這是直接、有效的方法。缺點(diǎn)是，對(duì)于一些不易導(dǎo)電的產(chǎn)品，如較大的室內(nèi)空間或塑料部件，產(chǎn)品內(nèi)部溫度可能需要很長(zhǎng)時(shí)間才能恢復(fù)到正常溫度。這將導(dǎo)致更長(zhǎng)的測(cè)試周期，并影響消耗效率。

　　方法二：縮短溫度恢復(fù)時(shí)間。對(duì)于室內(nèi)空間較大的產(chǎn)品，請(qǐng)盡量填充試驗(yàn)腔，以減少試驗(yàn)腔的體積。

　　方法三：在測(cè)試參考端添加與測(cè)試產(chǎn)品相同的參考件或儲(chǔ)氣罐，以抵消相同的溫度變化。（這是壓差測(cè)試方法比直接壓力測(cè)試方法的優(yōu)點(diǎn)之一）

　　2.排氣溫度

　　常見現(xiàn)象：試驗(yàn)結(jié)束后，產(chǎn)品內(nèi)氣體排出后，帶走產(chǎn)品和密封工具上的局部溫度。如果同一產(chǎn)品的二次試驗(yàn)立即停止，即電壓穩(wěn)定后，產(chǎn)品內(nèi)部的氣體溫度狀態(tài)將首先降低，然后上升。在試驗(yàn)階段，這將導(dǎo)致內(nèi)腔內(nèi)壓力略有上升，從而抵消局部泄漏。

　　影響：當(dāng)重復(fù)測(cè)試同一產(chǎn)品時(shí)，測(cè)試結(jié)果將顯示低于一次。如果重復(fù)測(cè)量中間距離時(shí)間，則重復(fù)測(cè)試結(jié)果，影響測(cè)試的穩(wěn)定性。

　　處理方法：重復(fù)測(cè)試同一產(chǎn)品時(shí)，兩次測(cè)試之間需要足夠的時(shí)間，才能使產(chǎn)品恢復(fù)正常測(cè)試狀態(tài)，每次測(cè)試的時(shí)間間隔較好不同。在設(shè)備上重復(fù)測(cè)試時(shí)，您可以選擇停止多個(gè)產(chǎn)品周期的測(cè)試。