影響氣密性測試結(jié)果的因素很多，其中重要的是溫度和體積的變化。在檢測過程中，一旦密封空氣回路中的溫度和體積發(fā)生變化，壓力就會根據(jù)查理定律發(fā)生變化，這將對泄漏測試造成更大的誤差。

　　在測試過程中，被測物體一側(cè)空氣回路的空氣溫度變化與壓差的關(guān)系如下：

　　例t=25℃，Δt=1℃

　?、貾=100kPaSoΔPt≒675Pa(當(dāng)被測物體的溫度下降時，壓力下降，并出現(xiàn)正測量值。

　　②P≒-101.3kPa（真空）=0kPa(絕對壓力)，因此ΔPt=0Pa

　　溫度對氣密性檢漏機(jī)的影響:

　　綜上所述，我們可以得出結(jié)論，它不受真空條件下溫度變化的影響嗎？測試誤差與測試壓力成正比。測試壓力越接近真空，誤差越小。

　　如果實(shí)際環(huán)境溫度穩(wěn)定，測試結(jié)果在不同溫度環(huán)境下的影響很小。例如，溫度環(huán)境與5攝氏度的差異約為5/(273)+20）≈1.7%。如果在測試過程中發(fā)生溫度變化，將對測試結(jié)果產(chǎn)生重大影響。

　　正常情況下，氣密性檢漏機(jī)會導(dǎo)致溫度變化影響試驗(yàn)：

　　1.氣體分子在充氣過程中的摩擦加熱

　　常見現(xiàn)象：氣體分子在充氣過程中的摩擦?xí)馃崃?。根?jù)氣體方程。PV=NRT，可以知道，測試腔的內(nèi)部壓力會增加。充氣后，溫度會慢慢恢復(fù)到正常室溫。如果穩(wěn)壓時間不夠，即腔體內(nèi)部溫度仍處于試驗(yàn)階段的恢復(fù)期，則溫度下降引起的壓降將直接反映在試驗(yàn)泄漏量上。

　　影響：試驗(yàn)階段，泄漏量由大到小變化，直至穩(wěn)定。

　　方法一：延長電壓穩(wěn)定性。在進(jìn)入測試階段之前，使測試室的內(nèi)部溫度自然達(dá)到外部溫度。這是直接、有效的方法。缺點(diǎn)是，對于一些不易導(dǎo)電的產(chǎn)品，如較大的內(nèi)部空間或塑料部件，充氣后可能需要很長時間才能恢復(fù)正常溫度。這將導(dǎo)致更長的測試周期，并影響消耗效率。

　　方法二：縮短溫度恢復(fù)時間。對于內(nèi)部空間較大的產(chǎn)品，請嘗試填充測試腔，以減少測試腔的體積。

　　方法三：在測試參考端添加與測試產(chǎn)品相同的參考部件或儲氣罐，以抵消相同的溫度變化。（這是壓差測試方法比直接壓力測試方法的優(yōu)點(diǎn)之一）

　　2.排氣溫度

　　常見現(xiàn)象：試驗(yàn)完成后，產(chǎn)品中的氣體排出，帶走產(chǎn)品和密封工具上的局部溫度。如果同一產(chǎn)品的二次測試立即停止，產(chǎn)品內(nèi)部氣體的溫度狀態(tài)將首先降低，然后在電壓穩(wěn)定后升高。在測試階段，這將導(dǎo)致腔內(nèi)壓力略有上升，以抵消局部泄漏。

　　影響:重復(fù)測試同一產(chǎn)品時，測試結(jié)果會顯示不到一次。如果重復(fù)測量中間距離時間，則重復(fù)測試結(jié)果，影響測試的穩(wěn)定性。

　　處理方法：重復(fù)測試同一產(chǎn)品時，兩次測試之間需要足夠的時間，才能使產(chǎn)品恢復(fù)正常測試狀態(tài)，每次測試的間隔較好不同。在設(shè)備上重復(fù)測試時，您可以選擇在多個產(chǎn)品周期中停止測試。